디지털회로테스팅 (15년 1학기)
- 성균관대학교
- 양준성
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- 주제분류
- 공학 >컴퓨터ㆍ통신 >정보통신공학
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- 강의학기
- 2019년 1학기
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- 조회수
- 5,515
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- 강의계획서
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본 강의는 디지털 회로의 테스팅을 용이하게 하기 위한 기법과 테스팅을 위한 설계 방법론에 대하여 다룬다.
ATPG, BIST, SoC 테스팅 방법에 대한 다양한 접근을 이해하는 것을 목표로 한다.
ATPG, BIST, SoC 테스팅 방법에 대한 다양한 접근을 이해하는 것을 목표로 한다.
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Introduction
차시별 강의
| 1. | |
Introduction | 기본적인 테스팅에 대한 기념 이해와 Fault Model에 대한 정의 설명 |  |
| 2. | |
Fault Modeling | 다양한 Fault Model에 대한 자세한 설명과 모델링에 대한 기술 방법론 | |
| 3. | |
Boolean Testing | 로직 함수들을 활용하여 테스트를 진행할 수 있는 테스팅 방법론에 대해 다루고 다양한 예제를 활용하여 진행 | |
| 4. | |
Fault Simulation | Stuck-at Fault를 활용하여 Fault coverage 등을 추출하는 방법과 fault simulation을 수행하는 다양한 알고리즘을 소개 | |
| 5. | |
ATPG | 테스트 인풋 생성을 위한 자동화 기술인 ATPG (Automatioc Test Pattern Generation)에 대한 기초적인 이해와 다양한 알고리즘을 소개 | |
| 6. | |
Sequential Circuit Testing | Sequential 회로에서 각 상태와 인풋을 이용하여 테스트를 하는 방법론에 대해서 배우고 이를 수행하는 알고리즘 등을 소개 | |
| 7. | |
Design-for-Testability | 테스트를 위한 설계 방법론에 대한 기본 개념과 Scan을 활용하여 테스트를 진행하는 장점을 소개 | |
| 8. | |
BIST-Ⅰ | 로직 테스트에서 테스트 비용을 낮추기 위한 BIST (Built-in Self-Test) 방법에 대한 소개와 다양한 SoC에서의 사용 기술 소개 | |
| 9. | |
BIST-Ⅱ | 로직 테스트에서 테스트 비용을 낮추기 위한 BIST (Built-in Self-Test) 방법에 대한 소개와 다양한 SoC에서의 사용 기술 소개 | |
| 10. | |
Test Compression | 테스트 데이터 증가에 대한 문제를 줄이기 위한 테스트 데이터 압축 방법을 다룸 | |
| 11. | |
Delay Test | SoC에서 회로에서 예상치 못하게 늘어나는 시간으로 인해서 Setup Time을 맞추지 못하는 오류를 검출하기 위한 테스트 방법 | |
| 12. | |
Low Power Test | 저전력 시스템에 적합한 테스트 방법론을 다루고, 전력을 높이지 않고 테스트를 진행할 수 있는 방법에 대한 알고리즘을 다룸 | |
| 13. | |
Other Test Techniques | 아날로그 회로 테스트 기술, 전류 테스트 등을 소개함 | |
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