| 1. | |
Introduction | 기본적인 테스팅에 대한 기념 이해와 Fault Model에 대한 정의 설명 |  |
| 2. | |
Fault Modeling | 다양한 Fault Model에 대한 자세한 설명과 모델링에 대한 기술 방법론 | |
| 3. | |
Boolean Testing | 로직 함수들을 활용하여 테스트를 진행할 수 있는 테스팅 방법론에 대해 다루고 다양한 예제를 활용하여 진행 | |
| 4. | |
Fault Simulation | Stuck-at Fault를 활용하여 Fault coverage 등을 추출하는 방법과 fault simulation을 수행하는 다양한 알고리즘을 소개 | |
| 5. | |
ATPG | 테스트 인풋 생성을 위한 자동화 기술인 ATPG (Automatioc Test Pattern Generation)에 대한 기초적인 이해와 다양한 알고리즘을 소개 | |
| 6. | |
Sequential Circuit Testing | Sequential 회로에서 각 상태와 인풋을 이용하여 테스트를 하는 방법론에 대해서 배우고 이를 수행하는 알고리즘 등을 소개 | |
| 7. | |
Design-for-Testability | 테스트를 위한 설계 방법론에 대한 기본 개념과 Scan을 활용하여 테스트를 진행하는 장점을 소개 | |
| 8. | |
BIST-Ⅰ | 로직 테스트에서 테스트 비용을 낮추기 위한 BIST (Built-in Self-Test) 방법에 대한 소개와 다양한 SoC에서의 사용 기술 소개 | |
| 9. | |
BIST-Ⅱ | 로직 테스트에서 테스트 비용을 낮추기 위한 BIST (Built-in Self-Test) 방법에 대한 소개와 다양한 SoC에서의 사용 기술 소개 | |
| 10. | |
Test Compression | 테스트 데이터 증가에 대한 문제를 줄이기 위한 테스트 데이터 압축 방법을 다룸 | |
| 11. | |
Delay Test | SoC에서 회로에서 예상치 못하게 늘어나는 시간으로 인해서 Setup Time을 맞추지 못하는 오류를 검출하기 위한 테스트 방법 | |
| 12. | |
Low Power Test | 저전력 시스템에 적합한 테스트 방법론을 다루고, 전력을 높이지 않고 테스트를 진행할 수 있는 방법에 대한 알고리즘을 다룸 | |
| 13. | |
Other Test Techniques | 아날로그 회로 테스트 기술, 전류 테스트 등을 소개함 | |
대구광역시 동구 동내로 64(동내동 1119) 우)41061
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